林伟坚,罗婉霞,孙志锋
LIN Weijian,LUO Wanxia,SUN Zhifeng

• 1:广州广日电气设备有限公司检测中心

摘要(Abstract)：

目前在灯具生产的耐压测试过程中存在LED闪烁、发亮、飞弧甚至损坏的问题。本文围绕此问题分析LED损坏的原因,并为预防、降低LED在耐压测试过程中损坏提供技术措施。
During dielectric strength test of LED production,it has the problems of flashing,arcing or even damage. This article analyzes the LED damage causes to provide technical measures for preventing and reducing the damages during the LED dielectric strength test.

关键词(KeyWords)： LED;耐压;驱动电源;铝基板
LED;dielectric strength test;drive;aluminum plate

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 林伟坚,罗婉霞,孙志锋
LIN Weijian,LUO Wanxia,SUN Zhifeng

参考文献(References)：

• [1]张古松.开关电源原理与设计[M].北京:电子工业出版社,2002.
• [2]灯具第1部分:一般要求与试验:GB 7000.1—2007[S].北京:中国标准出版社,2007.